日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162D

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更新日期：2023-08-20

简要描述：

日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162D
适用于 D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机

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日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162D

适用于 D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机

日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162D

测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C），校准后180天[校准后1年：1.5次]

测量范围	标准值设定范围	测量电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	测量电流	慢	快速地
100mΩ	5mΩ-100mΩ	100mA	± 0.02% ± 2a ± 2d	± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	100mA	±0.02%±a±1d以内	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	50mA	±0.02%±a±1d以内	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	10mA	±0.02%±1d以内	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	5mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	50μA
1兆欧	100.1kΩ～1MΩ	5μA		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.5μA	±0.03%±1d以内	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ ~ 109MΩ	0.05μA	±0.1%±2d以内	────

* D = 位数，n = 积分时间（毫秒），% 测量值：α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%，值测量值：α = 0 (add ± 1d)
* 屏蔽状态下的*精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	大约 18 毫秒-400 毫秒。	大约 0.7 毫秒-400 毫秒。	约30次/秒～约2次/秒	约60次/秒～约2次/秒

* 规格如有改进，恕不另行通知。