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更新日期：2023-08-20
简要描述：
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
由于模数隔离提高了抗噪性，因此稳定性高
兼容极小的芯片（低功耗测量）
超高速 0.7msec.（代表值）
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
适用于D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机
由于模数隔离提高了抗噪性，因此稳定性高
兼容极小的芯片（低功耗测量）
超高速 0.7msec.（代表值）
由于热电动势抵消测量的高精度和高稳定性
通过各量程的测量值积分时间设定功能，实现超高速、高稳定性的测量
% 测量：± 99.99% [5mΩ-109MΩ]
测量：0.00mΩ～200.00MΩ
接触检查：可选择测量前/测量后/OFF
RS-232C接口标准设备（GP-IB可选）
打印机输出标准设备（符合 Centronics）
标配设定值传输功能：（将相同的设定数据传输至另一台AE-162D并可自动设定）
测量电流/测量电压异常检查电路标准设备
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
| 测量范围 | 标准值设定范围 | 测量电流 | 测量精度* | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速地 | ||||
| 100mΩ | 5mΩ-100mΩ | 100mA | ± 0.02% ± 2a ± 2d | ± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
| 1Ω | 100.1mΩ～1Ω | 100mA | ±0.02%±a±1d以内 | ± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
| 10Ω | 1.001Ω～10Ω | 50mA | |||
| 100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10mA | ±0.02%±1d以内 | ± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | |
| 1kΩ | 100.1Ω～1kΩ | 5mA | |||
| 10kΩ | 1.001kΩ～10kΩ | 0.5mA | |||
| 100kΩ | 10.01kΩ-100kΩ | 50μA | |||
| 1兆欧 | 100.1kΩ～1MΩ | 5μA | ± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | ||
| 10MΩ | 1.001MΩ ~ 10MΩ | 0.5μA | ±0.03%±1d以内 | ± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d | |
| 100MΩ | 10.01MΩ ~ 109MΩ | 0.05μA | ±0.1%±2d以内 | ──── | |
| 测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速地 | 慢 | 快速地 | |
| 大约 18 毫秒-400 毫秒。 | 大约 0.7 毫秒-400 毫秒。 | 约30次/秒～ 约2次/秒 |
约60次/秒～ 约2次/秒 |
|
| 测量端子开路电压 | 15V以下 |
|---|---|
| 测量结束信号（EOC）脉宽 | 1 至 250 毫秒，可连续设定 |
| 测量方法 | 4端测量/2端测量可切换 |
| 判断值设定范围 | %测量：±99.99%，值测量：00000-20000 |
| 周边环境 | 温度：0℃～+50℃，湿度：80%以下 |
| 需要电源 | AC85V～265V，50Hz～60Hz，约50VA |
| 外形尺寸 | 333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm（不包括橡胶脚垫等突出部分） |
| 重量 | 约3.5kg |
| 选项 | ・ GP-IB |
|---|---|
| ・ 数据传输线 | |
| ・ 短接（零欧姆标准电阻） | |
| ・ 转换适配器（3P x 2⇒5P） |
