日本MIC超高精度、超精密电阻检测AE-163D

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更新日期：2023-08-20

简要描述：

日本MIC超高精度、超精密电阻检测AE-163D
非常适合用于 B、C、D、F、G、J、K 级、插入、melph 、径向和轴向电阻器的分拣和编带机

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日本MIC超高精度、超精密电阻检测AE-163D

非常适合用于 B、C、D、F、G、J、K 级、插入、melph 、径向和轴向电阻器的分拣和编带机

日本MIC超高精度、超精密电阻检测AE-163D

测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C），校准后90天[校准后1年：双倍]

测量范围	标准值设定范围	测量电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	测量电流	慢 [高分辨率]	快速 [LO-Resco.]	快速 [Lo-Resco.]
100mΩ	5mΩ-100mΩ	180mA	±0.01%±α±10d以内	±0.02%±α±2d以内	± 0.03% ± 2α ± 3d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	180mA	±0.005%±α±3d以内	±0.02%±α±1d以内	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	90mA	±0.005%±α±3d以内	±0.02%±α±1d以内	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	18mA	±0.005%±1d以内	±0.02%±1d以内	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	9mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.9mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	90μA
1兆欧	100.1kΩ～1MΩ	9μA	±0.007%±1d以内		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.9 微安	±0.02%±10d以内	±0.03%±1d以内	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ-100MΩ	0.09 微安	±0.1%±20d以内	±0.1%±2d以内	----

* D = 位数，n = 积分时间（毫秒），应用 Lo-Reso。测量值时
% 测量时：α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%，测量值时：α = 0 ( add ± 1d)
* *屏蔽状态下的精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	大约 24 毫秒-400 毫秒。	大约 11 毫秒-400 毫秒。	约5次/秒～约2次/秒	约10次/秒～约2次/秒