日本MIC超高精度、数字电阻检测仪AE-163L

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更新日期：2023-08-20

简要描述：

日本MIC超高精度、数字电阻检测仪AE-163L
超小尺寸芯片（0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...）
兼容精密电阻！
适用于 B、C、D、F、G、J、K 类、插入式、melf、径向和轴向电阻分选机和编带机

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日本MIC超高精度、数字电阻检测仪AE-163L

超小尺寸芯片 (0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...)兼容精密电阻！

适用于 B、C、D、F、G、J、K 类、插入式、melf、径向和轴向电阻分选机和编带机

特征

日本MIC超高精度、数字电阻检测仪AE-163L

测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C），校准后90天[校准后1年：双倍]

测量范围	标准值设定范围	测量电流	测量精度^*
测量范围	标准值设定范围	测量电流	慢 [高分辨率]	慢 [Lo-Reso.]	快速 [Lo-Reso.]
100mΩ	5mΩ-100mΩ	180mA	±0.01%±α±10d以内	±0.02%±α±2d以内	± 0.03% ± 2α ± 3d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	90mA	± 0.006% ± 2β ± 3 以内	±0.02%±α±1d以内	± 0.02% α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	9mA	± 0.006% ± 2β ± 3 以内	±0.02%±α±1d以内	± 0.02% α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	9mA	±0.005%±3d以内	±0.02%±1d以内	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	0.9mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.45mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	45μA
1兆欧	100.1kΩ～1MΩ	4.5μA	±0.009%±3d以内		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.45μA	±0.02%±10d以内	±0.03%±1d以内	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ-100MΩ	45nA	±0.1%±20d以内	±0.1%±2d以内	---

* D：位数，n：积分时间（msec.），Apply Lo-Reso.测量值时（加±1d）
测量百分比时：α=（100/标准设定值mΩ）×0.01%，β=（量程/ 标准设定值) x 0.001%,
测量值时：α, β = 0
* *屏蔽状态下的精度

测量时间	外部启动		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	AC1 周期 + 7.5msec. ~ 408msec.	大约 11.5 毫秒 ~ 408 毫秒。	约5次/秒～约2次/秒	约10次/秒～约2次/秒