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日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D

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更新日期:2023-08-20

简要描述:

日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D
自动测量超低电阻的理想之选
非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。
取消热电动势效应的测量
脉冲测量电流,减少测量端子自热和磨损

日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D
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日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D
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  • 非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。

  • 取消热电动势效应的测量

  • 脉冲测量电流,减少测量端子自热和磨损

  • 接触检查功能标准设备

  • 测量:0.0000mΩ~1.5000kΩ

  • % 测量:0.1mΩ ~ 1kΩ / ± 50.00% [小分辨率 10nΩ]

  • GP-IB / RS-232C / Centronics 接口(可选)

  • 比较器结果可以是集电极开路输出、LED显示和蜂鸣器声音

  • 测量电流/测量电压异常检查电路标准设备

  • 可切换输出


日本MIC高精度超低电阻测量仪AE-1152D

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
测量范围 测量范围 解决 测量电流 测量精度
1mΩ 0.0000mΩ ~ 1.5000mΩ 0.1μΩ 3A ±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega)
±3Digit [平均]
±4位数[SLOW]
±5digit [快]
10mΩ 0.000mΩ 至 15.000mΩ 1μΩ 1A
100mΩ 0.00mΩ 至 150.00mΩ 10μΩ
0.0000Ω ~ 1.5000Ω 100μΩ 100mA
10Ω 0.000Ω 至 15.000Ω 1mΩ
100Ω 0.00Ω 至 150.00Ω 10mΩ 10mA
1KΩ 0.0000kΩ 至 1.5,000kΩ 100mΩ 1mA
% 0.1mΩ ~ 1kΩ / ± 50.00% 0.01% [10nΩ] 看上面 查看规格
测量端子开路电压 5V以下
测量方法 4 端子测量 [可进行接触检查]
采样时间 【自由运行】2~10次/秒
[外部启动] 大约 9msec.-400msec。
比较器设定范围 上下限均为[0~15000],
%范围:低0~50%,高0~+50%
比较器判断结果显示 LO/GO/HI,LED显示和蜂鸣器
控制信号 测量开始信号:以“L"[0V]→“H"[DC12V]开始
保持信号:断开和“H"[DC12V]:自由运行,“L"[0V]:保持
判断结果信号[LO/GO/HI]:集电极开路输出max40V,100mA
接触错误[CONT-E]:
集电极开路输出max40V,100mA
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出max40V,100mA
周边环境 温度:5℃~+40℃,湿度:85%以下
需要电源 AC85V-265V,50-60HZ,约60VA
外形尺寸 333 (W) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分)
重量 约3kg
标准 CE 标志兼容
选项 ・ RS-232C 只有
一个这些选项
可以是内置的。
・ GP-IB
- 打印机输出 (Centronics)
・ 打印机电缆
・ 短接(零欧姆标准电阻)



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