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更新日期:2022-08-22
简要描述:
日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200
1线性度是显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。
类型 | 数字式 | 测量范围 | 1 |
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日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200
模型:FT-A200标准型/ FT-A200R薄膜型
(FT-A100的后继型号)
带有高精度测量头和放大器单元的机器
* 1线性度是
显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。
位移量
为±0.2%
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
(测量误差因位移量而异)
* 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。
重复性/ 0.05μm
(使用升降器重复上下触控笔)
测量分辨率/ 0.01μm
线性度/±0.2%* 1
(它是测量头的精度)
日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200
FT-A200测量范围/ 10μm至200μm * 2
FT-A200R测量范围/ 3μm至100μm * 2
测量压力/ 0.3N(标准)可以改变测量压力
主机/放大器单元/测量头配置
输出/模拟和RS232C
尺寸/ 260(H)x 300(W)x 309(D)*主体
重量/约10公斤*主体
电源/ AC100-240V
选件/
・软件・数据记录器・更换笔
・ PC ・图表打印机