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更新日期：2023-03-13
简要描述：
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
| 产品种类 | 台式 | 数显功能 | 有 |
|---|---|---|---|
| 温控功能 | 无 | 产地 | 进口 |
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I
工业时代，产品需求越增长，对产品的质量外观，要求也更高，就需要更高的技术，来达到要求。光屋株式会社，致力于检测工业生产中出现的灰尘，划痕问题，为产品生产环境和质量，保驾护航。所有的工业产品生产，车间污染，人工触碰，都极易产生灰尘和划痕，都有需要用到光屋的产品表面检查灯。
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
| 特点】 1. 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia). |
| 2. 使用卤素灯作为光源，色温高达3400°K，照光和颜色均一保证了稳定强光的照射。 |
| 3. 由于冷镜的使用，使得热影响与常规铝镜相比较少1/2 到 1/3 |
| 4. 光束直径由镜片调整，30-50mm 之间调整 |
| 5. 底部开光，调整照明勘察器高度，操作简便，可控制光量。 |
| 高亮度卤素射镜 | ||
| YP-150I | YP-250I | |
| 照射范围 | 30mmφ | 60mmφ |
| 照度 | ≥ 400,000 lｘ | ← |
| 照射距离 | 140mm | 220mm |
| 光源 | 卤素灯(使用冷镜) | ← |
| 灯型 | JCR15V150W | ELC24V250W |
| 寿命 | 50小时 | 35 小时 |
| 色温 | 3,400K° | ← |
| 色调 | 白 | ← |
| 环境温度 | 0～40℃ | ← |
| 冷却方式 | 强制排气 | ← |
| 连接 | 12φ | 20φ |
| 尺寸 | 100(W)×245(H)×116（D）mm | 120(W)×388(H)×130(D)mm |
| 重量 | 1.7 ㎏(17N) | 2.7 ㎏(27N) |
| 输入电压 | AC100V 50/60Hz | AC100V 50/60Hz |
| 功率 | 200W | 350W |
| 变化范围 | AC5～12V | AC10～22V |
| 环境温度 | 0～40℃ | ← |
| 冷却方式 | 自然 | 强制排气 |
| 尺寸 | 140(W)×94(H)×185(D)mm | 135(W)×72(H)×260(D)mm |
| 重量 | 2.4 ㎏ | 2 ㎏ |
| 其他 | 输入电线 :2m VCTF-电线 0.75sq (外加一插座) 输出电线 :2m VCTF-电线 1.25sq (外加一金属连接器) 脚踏开关线:3m (底部金属连接器) |
输入电线 :2m VCTF-电线 0.75sq (外加一插座) 输出电线 :2m VCTF-电线 1.25sq (外加一金属连接器) |
日本山田光学YP-150I/250I高亮度卤素射镜
日本山田光学YP-150I/250I高亮度卤素射镜
日本yamada半导体晶圆瑕疵检查灯YP-150I/YP-250I
是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導体晶片及液晶基板加工中z費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、抛光不均、霧状、划傷等。
概要
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源灯的光源，具有色温度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
YP-150I・・・照度範囲 φ30
YP-250I・・・照度範囲 φ60
（YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形）
