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更新日期：2023-04-03
简要描述：
optiworks 非接触式三维光学测量仪STIL-DUO
实现更精确的表面形状测量。 更宽的测量范围 除了先前型号中使用的测量方法（“共聚焦色度模式"）外，还安装了新的“干涉测量模式"。 现在可以支持更精确的表面轮廓测量。 两种模式都可以根据所需的测量精度使用，从而扩大了应用范围。
| 品牌 | 其他品牌 | 产品种类 | 台式 |
|---|---|---|---|
| 数显功能 | 有 | 温控功能 | 有 |
| 产地 | 进口 |
optiworks 非接触式三维光学测量仪STIL-DUO
实现更精确的表面形状测量。 更宽的测量范围 除了先前型号中使用的
测量方法（“共聚焦色度模式"）外，还安装了新的“干涉测量模式"。 现在可以支持更精确的表面轮廓测量。 两种模式都可以根据所需的测量精度使用，从而扩大了应用范围。
双模控制器
控制器可用于共聚焦色度模式和干涉测量模式。 与以前的型号一样，系统配置易于使用且简单，只需根据所需的测量精度更换笔式模块即可。
光源发出的光会反射在测量对象、参考板和参考平面上。 此时，两个反射光之间存在光程差。 如图所示，如果将参考板插入待测物体的前面并尽可能靠近，使光程差进入干涉距离，则两个反射光之间会发生干涉。 由于这种干涉的光谱强度是由波长调制的，因此可以通过轴向颜色校正光学笔进行测量和分析，以实现更精确的厚度测量。
optiworks 非接触式三维光学测量仪STIL-DUO
| 控制器 | CCS 控制器 | 光学笔“DUO"控制器 |
|---|---|---|
| 测量频率 | 100~2，000点/秒 | ~2，000 点/秒 |
| 测量频率选择 | ○ | ○ |
| 光源 | 白色LED | 卤素 |
| 光源强度 | 可 编程 序 | 可 编程 序 |
| 自动照度调节功能 | ○ | - |
| 遥控 | - | - |
| 大小 | 168×138×120 毫米 | 376×363×114 毫米 |
| 重量 | 1.4 千克 | 6 公斤 |
