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日本synos高性能光学测量光学系统 光学测量仪

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更新日期:2023-04-19

简要描述:

日本synos高性能光学测量光学系统 M 型示波器 I 型
用于高性能光学测量的光学系统(用于光照射和光接收测量的光学系统) M-Scope Type I 是一种高性能光学系统,设计用于多用途光学应用测量,例如光照射、光接收测量和光束轮廓测量。

日本synos高性能光学测量光学系统 光学测量仪
品牌 其他品牌 产品种类 台式
数显功能 温控功能
产地 进口

日本synos高性能光学测量光学系统M 型示波器 I 型

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用于高性能光学测量的光学系统(用于光照射和光接收测量的光学系统) M-Scope Type I 是一种高性能光学系统,设计用于多用途光学应用测量,例如光照射、光接收测量和光束轮廓测量。 配备用于光学测量的光纤连接端口和用于图像处理分析的图像检测器连接端口,可以使用同一光学系统实现多个光学测量。 此外,可以根据目的添加各种光学测量组件,并且可以根据使用目的轻松构建光学测量单元,例如测量目的,测量项目和测量触觉。 光学系统可以根据测量目标和测量波长选择和安装最合适的透镜或反射镜。 这使得在最佳光学条件下进行各种测量成为可能。


它可以应用于广泛的领域和应用,从光电探测器和传感器的入射光测量,发光元件的光接收测量,光束轮廓测量等,到生物细胞的微光束照射。


用于高性能光学测量的光学系统包括标准 M 型 I 型和偏振依赖性对策 M 型 I/PF 型。

产品特点

  • 配备光纤连接端口,用于光学参数测量。 它可以以多种方式使用,例如使用光纤输出型光源将测量光引入样品,将测量光中继到光纤以及使用光纤接收和测量光。

    • 测量光照射测量

      • 待测样品的表面由来自测量光源的精确测量光照射。

    • 测量光敏测量

      • 从样品中测量的光被中继到光纤,以测量功率、波长和响应等光学特性。

  • 配备图像检测器连接端口。 光照射测量期间测量的光照射位置和光接收测量期间测量的光测量位置可以用同轴观测相机直接观察。 此外,还可以支持在光接收测量期间进行光束轮廓测量。

    • 它配备了同轴观测相机端口。 当测量光照射到样品上时,通过同轴观察照射位置,可以将测量光可靠地照射到样品针点。 此外,当接收来自样品的光时,通过同轴观察光接收测量位置,可以将来自测量目标的光可靠地中继到光纤。 此外,由于可以直接观察到发光状态,因此还可用于光束形状测量应用,例如光束轮廓测量。

产品主要用途

  • 测量光照射测量

    • 测量光电二极管的光灵敏度和光响应特性

    • 测量各种光学传感器的光接收灵敏度

    • 测量各种光波导上的光入射引起的插入损耗、传播特性和连续性

    • 光照射半导体器件的失效分析

    • 生物医学应用,例如生物细胞的光照射

    • 此外,通过用测量光照射各种显微样品来测量和分析光学特性

  • 测量光敏测量

    • 测量半导体激光器和VCSEL等激光设备的发射特性

    • 测量从各种光波导接收到的光引起的插入损耗、传播特性和连续性

    • 通过测量各种发光设备的光接收来测量和分析光学特性

    • 此外,通过测量各种发光样品的光接收来测量和分析光学特性

  • 在晶圆级测量和分析各种光半导体器件的光学特性

  • 硅光子器件的研究与开发

  • 光学模块和透镜模块的装配调整和质量评估

  • 此外,光照射/光接收测量,图像测量,检查,一般研究和开发

日本synos高性能光学测量光学系统M 型示波器 I 型

产品主要规格

光纤端口
  • 测量光照射功能:1:1用相当于连接到光纤连接端口的光纤芯径的测量光照射样品表面

  • 光敏测量功能:从样品表面接收连接到光纤连接端口的光纤芯径的1:1的被测光并耦合到光纤

    • 上述照射/光接收直径比是使用10倍物镜(标准)时。

辐照和光接收直径
  • 使用10倍物镜时:以1:1的比分照射和接收相当于光纤芯的光

  • 使用20倍物镜时:照射和接收直径相当于光纤芯的1/2

  • 使用50倍物镜时:照射和接收相当于光纤芯直径1/5的光

物镜切换 手动4孔左轮(可同时安装4个物镜)
目的 兼容三丰M-Plan Apo系列(标准)
观察相机端口
中镜头放大倍率
1x(典型值)、2x 或 1/2x(可选)
图像探测器连接端口
最大光学放大倍率
  • 标准:100倍(含100倍物镜规格)

  • 选项:200x(100x物镜×2x中间镜头规格)

同轴落射照明端口 标准(外形φ8mm),同轴落射照明装置可选
调光方式 中性密度滤镜(ND滤镜)插入滤光片端口的方法(最多可以同时插入2张)
摄像机支架 C 接口



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