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日本bunkoukeiki单色仪M50 光学测量仪

访问次数:279

更新日期:2023-08-23

简要描述:

日本bunkoukeiki单色仪M50
高分辨率单色仪,焦距为500mm,波长为200nm至25μm。

日本bunkoukeiki单色仪M50 光学测量仪
品牌 其他品牌 产品种类 台式
数显功能 温控功能
产地 进口

日本bunkoukeiki单色仪M50

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特征

  • 光学装置采用我们原创改良的车尔尼-特纳安装座,因此将多次衍射引起的杂散光降至低。

  • 该光学系统像差很小,因此在每个波长上都可以获得对称性良好的光谱。

  • 衍射光栅更换方便,更换重现性好(±0.1mm以内),因此可作为宽带光谱仪(单色仪)使用。(200nm 至 25μm)

  • 由于可以用氮气吹扫,因此也可以在红外区域使用。

  • 光学系统采用宽有效面积的衍射光栅,F=5.3时明亮,像差小。

  • 机构和操作简单且坚固,因此耐冲击和振动,并且狭缝机构几乎没有间隙,因此可以进行高精度测量。

  • 由于入口狭缝和出口狭缝布置在相对侧,因此很容易组合其他光学系统和特殊附件来创建满足预期用途的光谱系统。

  • 通过安装步进电机波长驱动器(选件),可以通过外部脉冲信号或GP-IB进行控制。

日本bunkoukeiki单色仪M50

规格(使用1200线/mm衍射光栅时)


光学系统 非对称改良 Zernii-Turner 安装系统
焦距 500毫米
孔径比 F=5.3
衍射光栅 标线有效面积84×84mm
光波长范围 200-1400nm  
机械波长范围 0-1400nm 
解决 0.04nm(半宽)
波长扫描法 正弦杆机构/波长线性扫描
波长驱动方式(选项) 步进电机驱动
波长精度 ±0.1nm(从正向设定)
波长显示 计数器显示最小1nm,最小刻度0.05nm
波长重现性 ±0.05nm
杂散光 1×10 -4以下( λ 0 ±1 nm ,λ 0 =546.1 nm )
输入/输出狭缝 宽度:0至4毫米(双开口对称连续变量/最小刻度读数0.01毫米)
筛选 手动滑动方式(最多可安装6种)*UV/IR选项


标准配置

●本体(不含衍射光栅)
●可见光滤光片(L-37・R-64)
●滑动滤光片支架
●滑动高度V型光圈
●使用说明书

衍射光栅阵容

雕刻线数 闪耀波长 倒数方差

2400线/毫米

300纳米

0.74纳米/毫米

1800线/毫米

500纳米

0.98纳米/毫米

1200线/毫米

200,300,500,750nm,1.0μm

1.47纳米/毫米

600线/毫米

200、300、500、750nm、1.0、1.2、1.6μm

2.94纳米/毫米

400线/毫米

400,550,850nm,1.6μm

4.41纳米/毫米

300线/毫米

300,500nm,1.0,2.0,3.0,4.0μm

5.88纳米/毫米

150线/毫米

800nm、1.25、2.0、3.0、4.0、6.0、8.0μm

11.76纳米/毫米

120线/毫米

3.75, 8.3 微米

14.7纳米/毫米

60线/毫米

16微米

29.4纳米/毫米


*光栅是可选的。请定一个。
如需其他衍射光栅,请联系我们。
*倒数色散随波长而变化。




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