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更新日期：2023-11-13
简要描述：
shibuya高精度反射率测量装置MSP-100
以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量
| 品牌 | 其他品牌 | 产品种类 | 台式 |
|---|---|---|---|
| 数显功能 | 有 | 温控功能 | 无 |
| 产地 | 进口 |
shibuya高精度反射率测量装置MSP-100
通过使用特殊的半反射镜，可以减少背面反射光，无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
（可测量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物镜时）
还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。（在样品表面连接微小点（φ50μm））
即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量，并且具有高重复性。（光学设计捕获最大量的光，并
通过512元件线性PDA、内置16位A/D转换器和USB 2.0接口的高速计算实现快速测量。）
可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。
数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。
具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。
shibuya高精度反射率测量装置MSP-100
| 型号 | MSP-100 |
|---|---|
| 测量波长 | 380～1050nm |
| 测量重复性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
| 样品面 NA | NA 0.12（使用 10 倍物镜时） |
| 样品测量范围 | φ50μm（使用10倍物镜时） |
| 样品曲率半径 | -1R~-无穷大, +1R~无穷大 |
| 显示分辨率 | 1纳米 |
| 测量时间 | 几秒到十几秒（取决于采样时间） |
| 外形尺寸 | (宽)230×(高)560×(深)460mm（仅机身） |
| 工作温度限制 | 18～28℃ |
| 工作湿度 | 60%以下（无凝露） |
