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更新日期：2023-12-09
简要描述：
日本理研计器费米能级测量装置FAC-2
专用于光刻样品的开尔文探针
轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
日本理研计器费米能级测量装置FAC-2
特征
专用于光刻样品的开尔文探针
轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离
可在大气中测量半导体样品的费米能级
由于测量时间短，因此非常适合测量随时间变化的情况，例如成膜或表面处理后金属表面的变化。
目的
有机电子材料的费米能级测量
金属和导电薄膜功函数的测量
日本理研计器费米能级测量装置FAC-2
产品分类 |
开尔文探针 |
模型 |
FAC-2 |
测量原理 |
开尔文法 |
测量零件尺寸 |
Φ10mm |
测量能量范围 |
3.4 至 6.2eV（使用功函数为 5.0eV 的参考样品进行校准时） |
测量时间 |
10 秒或更短（如果样品是金属） |
重复性（标准差） |
功函数0.02eV（样品：金板） |
温湿度范围 |
温度范围15-35℃，湿度20-60%RH |
电源 |
AC100V，50/60Hz 5A（最大） |
外形尺寸 |
约235（宽）×330毫米（高）×408（深）毫米 |
重量 |
约12公斤 |
