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图像处理卤素光源FA-100C/FA-150EN 光学测量仪
图像处理卤素光源FA-100C/FA-150EN 过滤器底座规格 F20 系列过滤器可以从纤维出口插入和移除。 型号：FA-100C-K 型号：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 访问量：779
seiwaopt卤素光纤光源FA-100C/FA-150EN 光学测量仪
seiwaopt卤素光纤光源FA-100C/FA-150EN 过滤器底座规格 F20 系列过滤器可以从纤维出口插入和移除。 型号：FA-100C-K 型号：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 访问量：807
seiwaopt图像处理卤素光源FA-100C/FA-150EN 光学测量仪
seiwaopt图像处理卤素光源FA-100C/FA-150EN 过滤器底座规格 F20 系列过滤器可以从纤维出口插入和移除。 型号：FA-100C-K 型号：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 访问量：763
YP-250I电子元器件用表面检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：826
YP-250I半导体芯片检测用表面检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：1514
YP-250I液晶面板检测用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：778
YP-250I液晶屏幕检测用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：811
YP-250I半导体行业用目视检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：839
YP-250I晶圆表面瑕疵检查灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：817
YP-250I高照度卤素强光灯 大于 400,000luxes的照明光线可容易检测出只有精密探测仪才可测出的瑕疵。(照射面积为 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 访问量：901
YP-150I卤素强光灯 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：2789
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada晶圆瑕疵目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：1702
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 光学测量仪
日本yamada电子元件目视检查灯YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵检查的照明光源，微小瑕疵也可被检测出来
更新日期：2024-03-24 访问量：821
