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tsubosaka亮度计 LC-5 通过按压亮度表面轻松测量亮度 紧凑型手持式，可在所有情况下使用 使用数据保持功能，不会错过您想要测量的时刻
更新日期：2023-07-26访问量：435
日本simotec 辐射屏蔽橡胶板BD2-03-1000-02 光学测量仪
日本simotec 辐射屏蔽橡胶板BD2-03-1000-02 高度安全的硫酸倍是一种高度包装在橡胶中的辐射屏蔽材料。
更新日期：2023-06-13访问量：441
simotec 辐射屏蔽钨片HW11-10-300-05 光学测量仪
simotec 辐射屏蔽钨片HW11-10-300-05 新型安全材料，不含含铅材料，用于辐射屏蔽
更新日期：2023-06-13访问量：387
日本analytik 紫外线辐射计UVP UVX 光学测量仪
日本analytik 紫外线辐射计UVP UVX 这款数字UVP UVX辐射计与三个可互换传感器（单独订购）之一一起使用，用于测量254 nm、302 nm和365 nm紫外线波长。测量灯辐照度是监测任何紫外光源使用寿命的有效方法。单元包括一个用于连接图表记录器的端口（用户提供）。
更新日期：2023-06-09访问量：541
日本spectra光谱辐射计/照度计Spectra-LUMI 光学测量仪
日本spectra光谱辐射计/照度计Spectra-LUMI 光谱辐射计和照度计 Spectra-LUMI 测量 380 至 780 nm 可见光范围内的光谱，并测量各种项目，例如亮度、照度、色度、色温、主波长、刺激纯度和显色性。
更新日期：2023-05-30访问量：635
日本atto单管光度计AB-2270 这是一种高灵敏度的单管式发光测量装置。 它具有分色机制。
更新日期：2023-05-24访问量：408
日本atto单管光度计AB-2270 这是一种高灵敏度的单管式发光测量装置。 它具有分色机制。
更新日期：2023-05-24访问量：408
synos简单光学测量的光学系统 M-Scope J型 光学测量仪
synos简单光学测量的光学系统 M-Scope J型 用于光学测量的简单光学系统 M-Scope J型是一种用于光照射测量和光接收测量的光学系统。 它是一个小型单目外壳，适合集成到设备中。 配备用于同轴图像观察的图像探测器连接端口，可以轻松对齐光照射位置和光接收位置。
更新日期：2023-04-19访问量：530
M-Scope Type Isynos用于光照射和光接收测量的光学系统 光学测量仪
synos用于光照射和光接收测量的光学系统M-Scope Type I 用于高性能光学测量的光学系统（用于光照射和光接收测量的光学系统） M-Scope Type I 是一种高性能光学系统，设计用于多用途光学应用测量，例如光照射、光接收测量和光束轮廓测量。
更新日期：2023-04-19访问量：430
日本synos高性能光学测量光学系统 M 型示波器 I 型 用于高性能光学测量的光学系统（用于光照射和光接收测量的光学系统） M-Scope Type I 是一种高性能光学系统，设计用于多用途光学应用测量，例如光照射、光接收测量和光束轮廓测量。
更新日期：2023-04-19访问量：490
日本OMT超宽范围光度计 S009 这是一种细胞插入式超宽范围弱发光测量装置。 具有三位衰减率和低噪声光子计数器的ND滤光片切换机制可以测量约3位的光强度范围。
更新日期：2023-06-30访问量：499
likuan will用于 OIS 的光学传感器FD-1067 光学测量仪
likuan will用于 OIS 的光学传感器FD-1067 它是一种光学传感器，使用两个激光器同时测量倾斜、行程和行程。 倾斜和行程测量使用落射照明。 此外，还可以使用反射光同时进行行程测量。
更新日期：2023-04-04访问量：488
likuan will自动对焦的光学传感器TD-1090 光学测量仪
likuan will自动对焦的光学传感器TD-1090 它是一种光学传感器，使用两个激光器同时测量倾斜和行程。 倾斜测量使用落射照明。 此外，还可以使用反射光同时进行行程测量。
更新日期：2023-04-04访问量：790
optiworks 4D技术动态干涉仪PhaseCam6000 光学测量仪
optiworks 4D技术动态干涉仪PhaseCam6000 具有“动态干涉测量”（30微秒标准）的超快干涉测量4D Technology“动态干涉测量”可以在振动不可避免的地方以及远处移动的物体和样品进行测量。
更新日期：2023-04-03访问量：835
optiworks 非接触式三维光学测量仪STIL-DUO 实现更精确的表面形状测量。 更宽的测量范围 除了先前型号中使用的测量方法（“共聚焦色度模式”）外，还安装了新的“干涉测量模式”。 现在可以支持更精确的表面轮廓测量。 两种模式都可以根据所需的测量精度使用，从而扩大了应用范围。
更新日期：2023-04-03访问量：446
