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日本ae-mic具有微调功能超高阻计AE-1644E 适用于 安装10kΩ〜1TΩ芯片，Melf，轴向型超高电阻机器分选机，激光和切割机修整机
更新日期：2023-08-20访问量：1123
日本ae-mic高精度直流电阻检查器AE-182A 适合 D，F，G，J，K类RDC测量，电阻分选机/绕线机，电感器，热敏电阻
更新日期：2022-07-18访问量：629
日本ae-mic用于油漆输送机轴向阻力电阻检测AE-172 D，F，G，J，K级涂漆输送机，Melf和轴向电阻器的理想选择
更新日期：2022-07-18访问量：535
日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-163L 超小尺寸芯片（0 2 0 1，0 3 0 1 5 ...） 兼容精密级电阻器！ B，C，D，F，G，J，K级，芯片，熔炉，径向，轴向电阻分选机和编带机的理想选择
更新日期：2023-08-20访问量：602
日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D 适用于 B，C，D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机
更新日期：2023-08-20访问量：570
日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L D，F，G，J，K类，兼容超小型芯片（0201、03015），包带机
更新日期：2023-08-20访问量：656
日本ae-mic用于超高速芯片电阻检测AE-162D D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣机和编带机的理想选择
更新日期：2023-03-08访问量：594
日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪 Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。
更新日期：2022-07-18访问量：2827
CRN-100日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测
日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100 超高电阻范围：以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□ 平面多点测量功能
更新日期：2022-07-18访问量：689
日本napson非接触涡流法薄层电阻检测NC-80MAP 使用多种类型的非接触式探头的电阻测量仪器，范围广泛 （要安装的探头数量和探头类型可根据要求更改）
更新日期：2022-07-18访问量：2032
日本napson薄层电阻4探针法测量仪RT70V系列 它是测量仪（RT-70V）和测量台的组合测量仪。
更新日期：2022-07-18访问量：896
日本napson非接触型超低电阻范围的电阻测量PVE-80 非接触型（脉冲电压激励法）超低电阻范围的电阻测量系统 由于是使用脉冲电压激励法作为测量原理的非接触电阻测量系统，因此可以在不损坏样品的情况下进行测量。
更新日期：2022-07-18访问量：693
日本napson手持式薄层电阻测量仪DUORES DUORES手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）
更新日期：2022-07-18访问量：841
NC-10（NC-20）日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置
日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置NC-10（NC-20） 可通过个人计算机轻松操作的非接触（涡流法）电阻/薄层电阻测量装置
更新日期：2022-07-18访问量：768
日本napson手持式探针的电阻测量仪EC-80P 只需触摸手持式探头即可测量电阻。 在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换 使用JOG拨盘轻松设置测量条件
更新日期：2022-07-18访问量：709
